南京pcb設計公司|毫米波設計跟DK值測定

沒有管是用指名某一款PCB資料或者許已知PCB資料停止通路設想，或者許是用資料的Dk值停止仿真，對于設想工事師來說，介電常數（Dk或者絕對于介電常數）都是一度主要的終點。特別是正在較高的毫米波頻次下，跨度較短，通路分寸必需無比準確，介質基板的Dk，通路資料的Dk精確性能夠間接反應原型設想能否順利。通路資料的Dk值是依據通路資料的已知情理參數和丈量進程中運用的通路方式和榫頭的丈量來肯定的。

實踐上，沒有一種圓滿的Dk丈量辦法。正是某個緣由，有許多沒有同的Dk測試技能都試圖完成盡能夠的最高精密度。沒有同辦法的施行難度和精密度各沒有相反，即便正在相反頻次、量度下，測試同一度資料時，也能夠會發生沒有同的Dk值。因為毫米波的使用，對于電子通路的需求越來越多，因為Dk值的沒有肯定性能夠形成設想進程湍急。當資料的Dk與聲稱值沒有同聲，應用該資料制造的通路樣品的Dk值必需盡能夠精確以確保功能，特別是細致特色的毫米波通路的電氣功能。沒有同的Dk測試工法會發生沒有同的Dk內定后果，因而對于Dk測試的詳細沒有同點和意思有一度根本的意識，可以很好的協助毫米波下的通路設想。

隨著通路和使用的頻次一直增多，曾經開收回了多種沒有同的辦法，用來肯定資料Dk和消耗因數（Df）等根本參數。一切測試工法大體可分成基于原資料和基于通路的兩大類?；谠Y料的Dk測試工法常常將資料放入一度一定測試榫頭中，而基于通路的測試工法則會正在這種資料上制造一度參考通路或者構造，并從該通路或者構造的丈量后果中推導入錢料的Dk。大全體基于原資料的Dk測試工法丈量的是無導熱銅箔層的純介質資料，而基于通路的資料丈量則蘊含超導體的反應。

基于原資料的Dk測試工法一般內定繁多頻次和量度下的Dk值，而基于通路的Dk測試工法能夠依據實驗通路的類型，測試某一度頻次范疇的停止Dk值。此外，基于傳輸線構造的通路，相似微帶線和帶狀線，能夠經過陸續掃頻丈量停止頻次范疇內的值，而運用諧振器的實驗通路也僅能夠測試繁多頻次下的值。

許多Dk丈量辦法依據如IPC（www.ipc.org）等事業機構的規則停止了規范化解決，相似，IPC TM-650聚集了用來肯定PCB的Dk、消耗因數（Df）和其它根本資料參數的測試工法。但是，即便停止了規范化解決，并且關于丈量的進程有明白的指點規定，然而關于同一種資料，沒有同的Dk丈量辦法仍能夠會發生沒有同的Dk值，這僅僅是由于每種丈量所觸及的變量沒有同。理解Dk測試工法的差別可以為設想人員正在比擬資料和Dk值時需要協助和了解，特別是當該署數值用沒有同辦法內定時。

因為沒有同的Dk測試工法能夠發生沒有同的Dk值，因為資料供給商尤其是羅杰斯公司為同一種資料需要了多個Dk值：“進程”Dk和“設想”Dk。那里的進程Dk值是依據IPC-TM-650 2.5-5.5規范測試工法，測試繁多頻次和量度下的Dk值。而設想Dk值則是頻次范疇內的一系列值。關于大全體設想人員來說，設想Dk值為工事師需要了更為詳細的某一頻次下的資料的Dk值，尤其是所設想通路的任務頻次下的值。如確實沒有呼應的Dk值，相似正在毫米波頻次（30到300GHz）下，設想人員能夠就沒有得沒有正在呼應的感興味的頻次上停止本人的Dk丈量。沒有同的Dk測試工法會發生沒有同的Dk值，理解該現實后，正在采納沒有同的Dk丈量辦法時，則能夠更好天文解測試所失去的Dk值含意。

Dk測試工法的比照

每種Dk測試工法的精密度受多種要素的反應，相似測試設施（如矢量網絡綜合儀VNA）的校準精密度、基于原資料的丈量中運用的榫頭的變遷，或者基于通路的Dk丈量中運用的傳輸線或者諧振構造的加工中發作的變遷等。大全體通路資料是各向同性的，也就是Dk值正在資料的x（長短）、y（幅度）和z（薄厚）軸均有所沒有同。固然內定x軸和y軸上的Dk值的辦法也是有用的，但z軸上的Dk值的丈量一般最不值關心，由于它示意的是大全體通路的傳輸線的資料的Dk值。

羅杰斯公司所運用的夾緊式帶狀線諧振器測試工法是IPC-TM-650 2.5-5.5界說的規范測試工法，用于測試通路資料的進程Dk值和消耗因數（Df）。這兩個參數均是測試資料薄厚或者z軸位置的值。該測試工法精確高且可反復，然而僅測試的是繁多頻次下的Dk值，相似10GHz的Dk值；且它表征的是無導熱非金屬銅箔的純介質資料的特色。為了施行這一測試，需求將PCB層壓板篆刻去除掉銅箔后，將被測介質資料擱置于外部含有諧振器的榫頭中停止丈量。經過榫頭兩側的接地層，與榫頭內含的諧振器單獨形成一度帶狀線諧振。為了停止反復且精確的丈量，實驗榫頭必需慎重拆卸，這是由于裝有被測資料的榫頭中滯留的氣氛（Dk值為1）會變化測試的一全體，升高資料內定的Dk值。

測試榫頭是一切基于原資料的Dk測試安裝的根本構件。榫頭一般運用某些方式的諧振器，丈量諧振頻次和資料薄厚等情理參數從而內定資料的Dk值。因為，基于原資料的Dk測試的可反復性和精密度更多的起源于實驗榫頭的精密度，相比之下，基于通路的Dk丈量辦法的可反復性和精密度起源于通路的加工反應。

很多沒有同類型的諧振構造被用來內定通路資料Dk值，如結合柱介質諧振器（SPDR）法、全板諧振（FSR）法和結合式圓柱形諧振器法等，該署都是IPC-TM-650 丈量辦法中界說的辦法。SPDR丈量將一度充溢氣氛的諧振腔（空腔）與相反的裝有被測資料的腔體做比擬，得出所測資料的Dk值。該辦法的精密度起源于資料薄厚丈量融洽振腔分寸的精確丈量。SPDR內定的是資料x-y立體上的Dk值，而非z軸位置上的Dk值。FSR丈量運用了一塊帶有完好銅箔的資料，經過掃頻丈量找出駐波或者諧振峰失掉Dk值。被測的帶有完好銅箔的PCB板相似住口平行板波導的任務形式，進而丈量該資料板的長短上的駐波。資料分寸融洽振頻次可以需要緊缺消息推導入錢料正在該諧振頻次下的Dk值。該辦法實用于跨度長、頻次低的使用，然而正在內定較薄資料時沒有夠精確。

結合式圓柱形諧振器辦法需求將一度被測資料樣品放正在高低圓柱形諧振腔之間。圓柱形諧振腔的一半流動，另一半能夠挪動，高低圓柱體之間有一度可調間隙，以順應被測資料的沒有同薄厚。正在高低圓柱體的側孔中經過一度小的嚙合環，丈量與資料的x-y立體相切的磁場，以內定Dk值。

基于通路的Dk丈量辦法正在使用和發生的后果范圍也是沒有同的。該署辦法能夠起源于傳輸線通路或者構造的傳輸和反照特點的丈量，或者起源于諧振通路頻次和相位的丈量。傳輸線類型囊括微帶線、帶狀線和共面波導（CPW），而諧振通路囊括環形諧振器以及將諧振器作為通路單元的帶通濾波器的構造。

丈量的精密度起源于資料和通路情理分寸的準確丈量，相似傳輸線幅度、銅超導體薄厚以及介質薄厚等。該署丈量正在毫米波通路和構造的分寸上更存正在應戰性。介質資料薄厚的變遷以及銅箔超導體的毛糙度能夠形成傳輸線上信號門路的變遷，該署變遷正在毫米波頻次下愈加明顯，并且還會升高Dk內定精密度。較潤滑的銅箔導領會延長傳輸線上信號傳輸門路而失去沒有同的Dk丈量值。通路的該署情理偏偏向關于諧振器類的通路Dk丈量來說也無比主要，由于正在諧振器通路中，頻次和相位的準確丈量是至關主要的。

為了能內定通路資料的Dk值，很多測試工法被提出和考證。用同一種測試工法正在沒有同工夫測試同一度被測樣品資料，能夠失去相反的Dk值；而關于運用沒有同的測試工法丈量同一被測樣品會失去沒有同的Dk值。容易來說，測試通路和榫頭的變遷形成了Dk值變遷。這種變遷能夠經過歷次運用相反的測試工法來將Dk值變遷最小化，然而該測試工法能夠沒有支撐需要感興味的使用（相似頻次）下的Dk值，相似正在毫米波頻次下的值。更好天文解Dk測試工法和它的變遷，固然沒有能夠找出圓滿的Dk測試，然而關于有關使用，至多能夠采納最佳Dk丈量辦法停止內定。